昆山振弘檢測設備有限公司
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產品簡介：老化測試柜可以同時滿足SATA2.0,SATA2.5,SATA3.0等產品1000PCS容量的測試要求；可以同時監(jiān)控1000PCS產品的電壓、電流及功率；每層為一個抽屜，可同時測試100PCS的產品，共為10層。?
產品特點:
支持SATAⅠ/Ⅱ/Ⅲ的測試；
支持SATA的測試片數定制化例如100片、150片、200片、400片等；
支持研發(fā)微小型定制化，例如2片、6片等等；支持室溫~+150度的測試；
支持自動化溫控測試；
支持全部采用軟體進行智能化控制測試；
支持測試軟體的定制化，支持箱內風速與溫度均衡；
支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研發(fā)；
支持網絡化控制，可以異地控制測試并看測試結果；
支持APP遠程控制測試；
滿足標準：
1. GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法Bb
2. GJB150.3-1986高溫試驗
可以同時滿足SATA2.0,SATA2.5,SATA3.0等產品1000PCS容量的測試要求；可以同時監(jiān)控1000PCS產品的電壓、電流及功率；每層為一個抽屜，可同時測試100PCS的產品，共為10層。
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