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獨(dú)立四站比表面積及孔徑測(cè)試儀

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北京金埃譜科技有限公司

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V-Sorb4804系列比表面積及孔徑分析儀是金埃譜科技自主研發(fā)的比表面積及孔徑分析儀器，采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理

詳細(xì)介紹

V-Sorb 4804系列比表面積及孔徑分析儀是金埃譜科技自主研發(fā)的比表面積及孔徑分析儀器，采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理。多項(xiàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善，測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高，測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性更強(qiáng)，達(dá)到國(guó)際同類產(chǎn)品*水平。我們的產(chǎn)品設(shè)計(jì)更多從用戶使用的角度出發(fā)，使V-Sorb 4804系列比表面積及孔隙度測(cè)試儀具備了*的自動(dòng)化操作，操作界面人性化，簡(jiǎn)單易學(xué)；采用合資或進(jìn)口零配件，大大提高了產(chǎn)品可靠性和使用壽命。產(chǎn)品整體設(shè)計(jì)上的完善和嚴(yán)格的產(chǎn)品制造和檢測(cè)工序，確保產(chǎn)品更加符合用戶實(shí)際需求，同時(shí)V-Sorb 4804系列比表面積及孔隙度測(cè)試儀的高性價(jià)比有效保障了用戶的投資利益，靈活的產(chǎn)品配置可滿足不同用戶的不同需求。

測(cè)試功能：靜態(tài)容量法，吸附及脫附等溫線測(cè)定，BET法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn))，Langmuir法比表面積測(cè)定，BJH總孔體積及孔徑分析，t-plot圖法微孔分析，MP法微孔分析，HK法微孔分析，CO₂-冰水法微孔分析，t-plot圖法外比表面積測(cè)定；樣品真密度測(cè)定和平均粒徑估算。
真空系統(tǒng)：集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng)，大大減小管路死體積空間，提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度，從而提高孔徑分析的分辨率；同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn)，大大提高密封性和儀器使用壽命。
測(cè)試模式：集成“單一氮?dú)鉁y(cè)試模式"和“氮?dú)?氦氣標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模式"于一體，供客戶根據(jù)實(shí)際需要選擇使用；采用“氮?dú)?氦氣標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模式"，符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，可確保結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性，且操作簡(jiǎn)單；對(duì)于低溫下可吸附氦氣的樣品，不適宜采用氦氣測(cè)定的死體積空間，可通過(guò)采用“單一氮?dú)鉁y(cè)試模式"獲得理想的測(cè)試結(jié)果。
標(biāo)定氣體：具備使用He氣和“氮?dú)?空管"模式2種冷自由空間體積標(biāo)定的功能。
測(cè)定范圍：0.0005(m²/g)--至無(wú)上限（比表面積）；0.35nm-2nm(微孔)、2nm-500nm(中孔孔和大孔)；0.0001cc/g--至無(wú)上限(總孔體積)。
測(cè)量精度：比表面積重復(fù)精度≤± 1.0%，最可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.01nm，真密度 ≤±0.04%；外表面積≤± 1.5%。
液位控制：V-Sorb的液氮面控制系統(tǒng)，確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變，*消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差。
數(shù)據(jù)采集：采用主流的數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)和高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊，誤差小，抗力強(qiáng)。
樣品數(shù)量：可以同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品分析和4個(gè)樣品脫氣處理，樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)必需相互獨(dú)立，并且樣品測(cè)試和樣品脫氣處理必需可以同時(shí)進(jìn)行，避免了測(cè)試管路受到污染，從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命。
控制系統(tǒng)：采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng)，高集成度和抗力，提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命。
壓力測(cè)量：采用多支進(jìn)口硅薄膜電容式壓力傳感器對(duì)壓力進(jìn)行分段的測(cè)量，顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度，8支0-1000Torr (0-133Kpa)， 4支0-1Torr (0-0.133Kpa)，壓力傳感器必須提供進(jìn)口檢測(cè)證書。
壓力精度：高精度進(jìn)口硅薄膜電容式壓力傳感器，精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15％，優(yōu)于全量程的0.15％，遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15％)。
真空泵：進(jìn)口雙極真空泵可以實(shí)現(xiàn)外置和內(nèi)置儀器中二種放置方法，泵必須內(nèi)置儀器中，可以通過(guò)軟件根據(jù)實(shí)驗(yàn)需要自動(dòng)控制真空泵啟停，從而延長(zhǎng)真空泵的壽命。
液氮杯：采用進(jìn)口4升大容量不銹鋼內(nèi)膽杜瓦瓶，相比玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶?jī)?yōu)點(diǎn)為：經(jīng)久耐用，不易破損，在無(wú)需增加保溫蓋的條件下可連續(xù)進(jìn)行72小時(shí)測(cè)試，無(wú)需添加液氮，能孔徑長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試需求。
分壓范圍：P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10^-6-0.998。
極限真空：4x10^-2Pa (3x10^-4Torr)；配分子泵可達(dá)5x10^-6Pa。
樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等。
測(cè)試氣體：高純N₂氣或其它(按需選擇如Ar，Kr)。
數(shù)據(jù)處理：Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件，功能完善，操作簡(jiǎn)單，多種模式數(shù)據(jù)分析，圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表。
儀器規(guī)格：尺寸：長(zhǎng)70×寬70×高85(CM)；重量：60公斤；電壓：交流220V；電流：5A。

金埃譜科技可以提供樣品測(cè)試服務(wù)，詳情請(qǐng)聯(lián)系銷售部/9。

A.真空系統(tǒng)

的一體化集裝式管路系統(tǒng)，采用進(jìn)口集裝管路，顯著減少管路連接點(diǎn)，大大降低漏氣率，提高極限真空度；
模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，一體式集裝管路，需人工進(jìn)行連接的部件少，利于根據(jù)用戶需求配置及后期升級(jí)與維護(hù)；
德國(guó)進(jìn)口雙級(jí)真空泵，噪音小運(yùn)行穩(wěn)定，防油返功能，極限真空度高，可達(dá)4x10^-2Pa (3x10^-4Torr)。

B.控制系統(tǒng)

采用廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制系統(tǒng)中的可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng)，抗力強(qiáng)，穩(wěn)定性大大提高，安裝拆卸方便；
設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)管路和樣品處理管路分離結(jié)構(gòu)，有效防止樣品處理過(guò)程中產(chǎn)生的雜質(zhì)對(duì)測(cè)試管路的污染。

C.提高測(cè)試精度措施

采用與同類進(jìn)口產(chǎn)品相同品牌的高精度硅薄膜電容式壓力傳感器，壓力測(cè)量精度為相應(yīng)讀數(shù)的0.15％，遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于0.15％的全量程精度(FS)傳感器；
采用8支0-1000Torr (0-133Kpa)， 4支0-1Torr (0-0.133Kpa)壓力傳感器，對(duì)測(cè)試范圍內(nèi)的壓力采用分段測(cè)量，大大降低了低真空下的測(cè)量誤差，0-1Torr的硅薄膜壓力傳感器精度遠(yuǎn)高于相同量程的皮拉尼電阻真空計(jì)(一般誤差為10%-15％)；
的一體化集裝式管路系統(tǒng)，進(jìn)口集裝管路顯著減少管路連接點(diǎn)，大大減少死體積空間，有利于降低測(cè)量誤差；
的步進(jìn)式液氮面控制系統(tǒng)確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變，*消除因死體積變化引入的誤差；
設(shè)計(jì)的抽氣及進(jìn)氣控制系統(tǒng)，有效防止樣品抽真空和進(jìn)氣過(guò)程中的飛濺，確保測(cè)試氣路的清潔和樣品質(zhì)量無(wú)損失，保護(hù)高精度壓力傳感器免受壓力巨變可能導(dǎo)致的零點(diǎn)和線性漂移。

D.數(shù)據(jù)采集及處理

采用高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊，連接方便，誤差小，抗力；采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的485通訊模式，有利于設(shè)備擴(kuò)展和互連，可方便轉(zhuǎn)換為所需的RS232和USB通訊模式；
多種理論計(jì)算模型數(shù)據(jù)分析，為用戶提供材料分析方案；強(qiáng)大的測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔保存，查詢系統(tǒng)，利于數(shù)據(jù)管理。

V-Sorb 4804P比表面積及孔徑分布測(cè)試儀核心技術(shù)：比表面積及孔徑分布測(cè)試儀管路獨(dú)立系統(tǒng) | 比表面積及孔徑分布測(cè)試儀的穩(wěn)定性

超微粉體，納米材料，顆粒及纖維狀材料比表面積、孔隙及孔徑分布分析測(cè)定；
粉體材料生產(chǎn)及應(yīng)用企業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測(cè)；
高校及研究型科研單位的材料研究及測(cè)試工作，吸附科學(xué)及BET(Brunauer-Emmett-Teller), BJH(Barrett-Joyner-Halenda)等眾多理論教學(xué)實(shí)驗(yàn)；
電池材料，催化劑，添加劑，吸附劑，陶瓷燒結(jié)材料，磁性材料，儲(chǔ)能材料等相關(guān)性能測(cè)定；
其它與材料表面性能相關(guān)的研究工作。