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MiniTest 720/730/740涂層測厚儀漆膜測厚儀油漆測厚儀

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介紹SIDSP技術詳解MiniTest720MiniTest730MiniTest740涂層測厚儀-的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的精確性-測量范圍達15mm

詳細介紹

介紹

SIDSP技術詳解

MiniTest720MiniTest730MiniTest740涂層測厚儀
-的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

SIDSP技術-技術，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的奠定了標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內(nèi)部將信號處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭依據(jù)生產(chǎn)。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉換和處理，帶給您精確的涂層厚度值。此項的數(shù)字處理技術，同時應用在現(xiàn)代通訊技術（手機網(wǎng)絡）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理的信號質(zhì)量和精確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設定了一個的標準。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有的抗干擾性
任何與測量相關的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有的抗干擾能力。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)秀性能。

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀高精確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上進行校準，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精準，將測量錯誤降至低。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀技術數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用		粗糙表面	標準探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理	磁感應	電渦流	磁感應	磁感應	電渦流	磁感應
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
精確度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
小測量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀主機

型號特性	MiniTest 720	MiniTest 730	MiniTest 740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	10,000個	10,000個	100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)，小值，大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合國際標準和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內(nèi)置）/230g（外置）