透反射型偏光 熱臺顯微鏡 XPR-700詳細(xì)技術(shù)參數(shù)
一、儀器的用途
透反射熱臺偏光顯微鏡是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門和相關(guān)高等院校的高分子等專業(yè)的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。與光學(xué)或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察其溶化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。
專為材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子材料學(xué)而研制。觀察高聚物熔融和結(jié)晶過程中的形態(tài),結(jié)晶速率及動力學(xué)計(jì)算；觀察雙折射體的光學(xué)效應(yīng)；微生物形貌觀察；組織細(xì)胞核、壁形態(tài)觀察；地質(zhì)材料偏光形態(tài)觀察；無機(jī)晶體材料觀察,特別對含有結(jié)晶體的材料進(jìn)行熱性能變化的研究更為重要。
二、技術(shù)參數(shù)
1．目鏡
| 類別 | 放大倍數(shù) | 視場(mm) |
| 大視野目鏡 | 10X | φ18 |
| 分劃目鏡 | 10X | φ18 |
2．物鏡
| 類別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑(NA) | 蓋玻片厚 |
無應(yīng)力平場
消色差物鏡 | 5X | 0.12 | - |
| 10X | 0.25 | - |
| 40X | 0.65 | - |
| 60X | 0.85 | - |
3.光學(xué)放大倍數(shù)：50X--600X
4.目鏡管：轉(zhuǎn)軸式（傾斜30°），內(nèi)置檢偏器,可自由切換正常觀察與偏光觀察,推入式
勃氏鏡,中心可調(diào),λ補(bǔ)償器,λ/4 補(bǔ)償器,石英鍥補(bǔ)償器
5.透射照明：6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào),起偏器可360°旋轉(zhuǎn)有0、90、180、270四個(gè)讀數(shù)
反射照明: 6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào), 起偏器可旋轉(zhuǎn)；
6.載物臺：機(jī)械式附加旋轉(zhuǎn)臺面 尺寸 φ100mm， 360°旋轉(zhuǎn)
7.調(diào)焦機(jī)構(gòu)：粗微動同軸，齒輪轉(zhuǎn)動 , 帶限位及調(diào)節(jié)松緊機(jī)構(gòu)
8.聚光鏡：阿貝聚光鏡NA1.25，升降上下可調(diào)
9.防霉系統(tǒng):防霉
10.成像系統(tǒng):配置日本JVC高像素CCD,像素達(dá)47萬；
11.高精熔點(diǎn)測定儀(具體參數(shù)見熔點(diǎn)儀資料)
①精密溫度控制儀顯示窗口由上下二排四組數(shù)子及文字（英文）組成。
上排：溫度測量顯示組，下排 ：溫度設(shè)定顯示組. 數(shù)顯方式:整數(shù)顯示
②恒溫范圍：室溫---400℃, 恒溫精度：全范圍≤±0.5, 恒溫系統(tǒng)波動度：±1℃
如作熔點(diǎn)測量,則只能間接測量;必須通過標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)熔點(diǎn)校正得到修正值后,再進(jìn)行測量.
此儀器只能測量相對溫度,不能測量溫度; 儀器顯示溫度不等于物質(zhì)的實(shí)際溫度.
③溫度速度：可設(shè)置升溫速度范圍(可調(diào))：0.5---36秒/℃
升溫速度：室溫---100℃≤40秒
最慢升溫速度達(dá)36秒/℃,達(dá)400℃時(shí)間：240分鐘
即刻恒溫響應(yīng)時(shí)間：≤0.01秒
④熱臺尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高溫區(qū): Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
⑤熱臺的外體與高溫度采用三根陶瓷分開隔熱;在中心溫度400℃,室溫25℃時(shí),熱臺外
體溫度≤70℃,熱臺載物重量：200克
⑥熱臺傳感器:高精度的雙傳感器,連接熱臺與溫控儀
三、系統(tǒng)組成
電腦型 (XPR-700V)：1.顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器 4.A/D(圖像采集) 5.N型熱臺
數(shù)碼型 (XPR-700D)：1.顯微鏡 2.適配鏡 3.數(shù)碼相機(jī) 4.N型熱臺
四、總放大參考倍數(shù)
XPR-700V型：50--3400倍 XPR-700D型：50--2000倍
五、選購件
1．目鏡：16X(Φ11mm) 2．物鏡：20X 50X 80X 100X
3．移動尺(30X25mm) 4．圖像測量軟件
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