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更新時間：2023-03-03 16:22:10瀏覽次數(shù)：167次
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2020新款GCSTD系列高頻介電常數(shù)測試儀的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動設(shè)定，諧振點(diǎn)自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。
介電常數(shù)測試儀及介質(zhì)損耗測試儀
一、滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法
1定義和測試原理
陶瓷材料的介質(zhì)損耗角正切值(tand)是表示在某一頻率交流電壓作用下介質(zhì)損耗的參數(shù)。所謂?介質(zhì)損耗即是單位時間內(nèi)消耗的電能。?由陶瓷材料制成的元器件，當(dāng)它工作時，交變電壓加在陶瓷介質(zhì)上，并通過交變電流，這時陶瓷?介質(zhì)連同與其相聯(lián)系的金屬部分，可以看成有損耗的電容器，并可用一個理想電容器和一個純電阻器
試樣
試樣應(yīng)符合GB 5593-85 «電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料》的規(guī)定。?試樣應(yīng)進(jìn)行清洗干燥處理。?試樣在正常試驗(yàn)大氣條件下放置不少于24h。
測量儀器和設(shè)備?測量儀器?可采用直讀式損耗表、高頻Q表、高頻電橋及高頻介質(zhì)損耗測量儀等儀器。測量回路的Q值應(yīng)大?于200。?加熱爐?爐內(nèi)溫度應(yīng)均勻?？捎米詣踊蚴謩臃绞竭M(jìn)行控溫,.控溫范圍為室溫至500 C。在控溫范圍內(nèi)任一個?溫度值，在lOmin內(nèi)溫度波動不大于士 1°C。
夾具?可采用圖3所示的三種形式中的任一種夾具。圖3 a為一對尖地電極，材料用彈性銅片鍍銀，厚?0.6mm。用石英管或其他致密的高溫絕緣材料制成的絕緣子支承，置于接地屏蔽盒內(nèi)。圖3 b為匚個?尖形和一個平板形電極。圖3 a為一對圓平板形電極，平板之間距離用百分表（可讀到0.01mm）顯示。?圓平板直徑應(yīng)小于25mm。?3.4連接線?連接線要盡量短，*小于25cm,連接線為鍍銀銅片，寬10mm,厚0.6mm。連接線也可用屏?蔽線。
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2020新款GCSTD系列高頻介電常數(shù)測試儀
2020新款GCSTD系列高頻介電常數(shù)測試儀
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